數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱方阻），換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻行測(cè)量。

本測(cè)試儀可贈(zèng)設(shè)電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作！

儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入；具有零位、滿度自校能；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。